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電工電子產(chǎn)??環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法你知道多少呢？
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法你知道多少呢？

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備

 

標(biāo)準(zhǔn)簡介
本部分規(guī)定了溫度(含低溫、高溫和溫度變化)試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。本部分適用于對GB/T2423.1《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫》、GB/T 2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫》和GB/T 2423.22《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)N：溫度變化》所用試驗(yàn)設(shè)備的**檢驗(yàn)/驗(yàn)收檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)。本部分代替ＧＢ／Ｔ５１７０．２—１９９６。與ＧＢ／Ｔ５１７０．２—１９９６相比，技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化：———標(biāo)準(zhǔn)名稱“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法　溫度試驗(yàn)設(shè)備”更改為“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法　溫度試驗(yàn)設(shè)備”；
———所有用詞“檢定”更改為“檢驗(yàn)”；
———增加了“術(shù)語和定義”一章；
———增加了“溫度波動度”檢驗(yàn)項(xiàng)目；
———增加了“溫度均勻度”檢驗(yàn)項(xiàng)目；
———增加了“每５ｍｉｎ溫度平均變化速率”檢驗(yàn)項(xiàng)目；
———增加了“溫度指示誤差”檢驗(yàn)項(xiàng)目；
———增加了“溫度過沖量”檢驗(yàn)項(xiàng)目；
———增加了“溫度過沖恢復(fù)時間”檢驗(yàn)項(xiàng)目；
———增加了“噪聲”檢驗(yàn)項(xiàng)目；
———刪除了“相對濕度”檢驗(yàn)項(xiàng)目；
———在“檢驗(yàn)用主要儀器及要求”一章中，給出了溫度測量系統(tǒng)其測量結(jié)果的擴(kuò)展不確定度（k＝２）的要求
———增加了“檢驗(yàn)負(fù)載”一章；
———修改了“溫度變化速率”的計算方法；
———測量數(shù)據(jù)記錄改為每一分鐘記錄一次數(shù)據(jù)；
———刪除了“檢定過程中的處理”部分；
———附錄Ａ“測量記錄表格示例”更改為“檢驗(yàn)項(xiàng)目的選擇”；
———刪除了附錄Ｂ “溫度波動度、溫度均勻度檢定方法”。

 

 

 前言
GB/T5170目前包含以下幾部分:
---GB/T5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則
---GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
---GB/T5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備
---GB/T5170.8-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 鹽霧試驗(yàn)設(shè)備
---GB/T5170.9-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備
---GB/T5170.10-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備
---GB/T5170.11-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備
---GB/T5170.13-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(正弦)試驗(yàn)用機(jī)械振動臺
---GB/T5170.14-1985 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(正弦)試驗(yàn)用電動振動臺
---GB/T5170.15-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(正弦)試驗(yàn)用液壓振動臺
---GB/T5170.16-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 穩(wěn)態(tài)加速度試驗(yàn)用離心機(jī)
---GB/T5170.17-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗(yàn)設(shè)備
---GB/T5170.18-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備
---GB/T5170.19-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/振動(正弦)綜合試驗(yàn)設(shè)備
---GB/T5170.20-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 水試驗(yàn)設(shè)備
本部分是GB/T5170的第2部分。
本部分代替GB/T5170.2-1996。與GB/T5170.2-1996相比,技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化:
---標(biāo)準(zhǔn)名稱電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備更改為電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備;
---所有用詞檢定更改為檢驗(yàn);
---增加了術(shù)語和定義一章;
---增加了溫度波動度檢驗(yàn)項(xiàng)目;
---增加了溫度均勻度檢驗(yàn)項(xiàng)目;
---增加了每5min溫度平均變化速率檢驗(yàn)項(xiàng)目;
---增加了溫度指示誤差檢驗(yàn)項(xiàng)目;
---增加了溫度過沖量檢驗(yàn)項(xiàng)目;
---增加了溫度過沖恢復(fù)時間檢驗(yàn)項(xiàng)目;
---增加了噪聲檢驗(yàn)項(xiàng)目;
---刪除了相對濕度檢驗(yàn)項(xiàng)目;
---在檢驗(yàn)用主要儀器及要求一章中,給出了溫度測量系統(tǒng)其測量結(jié)果的擴(kuò)展不確定度(k=2)的要求;
---增加了檢驗(yàn)負(fù)載一章;
---修改了溫度變化速率的計算方法;
---測量數(shù)據(jù)記錄改為每一分鐘記錄一次數(shù)據(jù);
---刪除了檢定過程中的處理部分;
---附錄A測量記錄表格示例更改為檢驗(yàn)項(xiàng)目的選擇;
---刪除了附錄B 溫度波動度、溫度均勻度檢定方法。
附錄A 為規(guī)范性附錄。
本部分由國內(nèi)電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC8)提出并歸口。
本部分起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所。
本部分主要起草人:伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國良。
本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為:
---GB/T5170.2-1985,GB/T5170.3-1985,GB/T5170.4-1985;
---GB/T5170.2-1996。

宏展儀器專業(yè)生產(chǎn)經(jīng)營:紫外光耐氣候試驗(yàn)箱；紫外線加速耐候試驗(yàn)機(jī)；高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱；可程式恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)；溫濕度檢定箱；高低溫恒溫試驗(yàn)箱；高低溫沖擊試驗(yàn)箱；蓄溫式冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)；步入式環(huán)境實(shí)驗(yàn)室/試驗(yàn)艙；步入式恒溫恒濕試驗(yàn)室；精密烘箱；鹽水噴霧試驗(yàn)機(jī)；模擬運(yùn)輸試驗(yàn)機(jī)；蒸汽老化試驗(yàn)機(jī)；跌落試驗(yàn)機(jī)；快速溫變|應(yīng)力篩選試驗(yàn)機(jī)[ESS]；其他環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備
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