涂層測(cè)厚儀標(biāo)配探頭F1探頭
涂層測(cè)厚儀標(biāo)配探頭F1探頭是磁性法測(cè)量的通用標(biāo)準(zhǔn)探頭，涂層測(cè)厚儀標(biāo)配探頭測(cè)量范圍0-1250um，涂層測(cè)厚儀標(biāo)配探頭基本覆蓋大部分涂層厚度范圍，涂層測(cè)厚儀標(biāo)配探頭也是TT260的標(biāo)配探頭。
測(cè)頭型號(hào)
F1
涂層測(cè)厚儀標(biāo)配探頭工作原理
磁感應(yīng)
涂層測(cè)厚儀標(biāo)配探頭測(cè)量范圍（um）
0-1250
涂層測(cè)厚儀標(biāo)配探頭低限分辨力(um)
0.1
示值誤差
一點(diǎn)校準(zhǔn)(um)
±[3%H+1]
兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um)
±[(1～3)%H+1]
測(cè)量條件
*小曲率半徑(mm)
凸1.5
基體*小面積的直徑(mm)
ф7
*小臨界厚度(mm)
0.5
涂層測(cè)厚儀標(biāo)配探頭探頭尺寸（mm)
ф12X47