用途 適用于電子、電工產(chǎn)品和其他**設(shè)備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗(yàn),也是篩選電子元器件初期故障的*佳助手。 執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn) 1、GB/T2423.1-1989低溫試驗(yàn)方法; 2、GB/T2423.2-1989高溫試驗(yàn)方法; 3、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn); 4、GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn); 5、GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn); 6、GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗(yàn)。
1、以上產(chǎn)品外尺寸不包含突出部分,產(chǎn)品尺寸可按客戶要求定做; 2、以上技術(shù)參數(shù)在室溫20℃,無負(fù)荷條件下測(cè)得的數(shù)據(jù)。3、突出部分不包含在內(nèi)部尺寸和外部尺寸內(nèi)。
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